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7分钟前 池州矿石分析仪厂商来电洽谈「英飞思科学」[英飞思科学66089b4]内容:能量色散X萤光与波长色散X萤光光谱分析技术特别研究与应用了里层三个电子轨道即K,L,M上的活动情况,其中K轨道为接近核子,每个电子轨道则对应某元素一个个特定的能量层(伊诺斯合金分析仪中国服务商)。在XRF分析法中,从光发射管里出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时,原子变成了不稳定的离子。其显著优势主要有
•更快---全程无损分析,一到三分钟即可出结果(可实时刷新测试结果)
•更准---强大的基于Windows的FP(基本参数算法)软件降低了基体元素间吸收增应,并同时考虑到不同基体对光谱强度变化的干扰,把测试准确度提高到了新的水平
•更稳---使用新的硅漂移检测器SDD可得到更好的测试稳定性和长期重复性,该款检测器可在相同样品激发条件下获得更高的光谱强度(计数率CPS)。