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远场测试技术虽然早成熟，但是由于其对大测试场地和电磁环境的特殊要求，测试非常不方便，人们一方面用紧缩场产生平面波来模拟无线长度的场地，另一方面则是用近场测试代替远场测试。
近场测量的原理是在一个面上采集待测天线近场数据，然后通过近远场变换算法，得到待测天线远场辐射特性。根据取样面的形式,可分为平面扫描、极平面扫描、柱面扫描和球面扫描技术，平面近场测量使用为普遍。近场测量的原始数据需要包含幅度相位信息，仪器设备主要是矢量网络分析仪，或测量接收机、信号源等组成。
将待测天线作为发射端，而探头作为接收端（注：可以根据具体情况进行收发转换）。在发射端，由VNA1000A产生信号（如需要可增加功率放大器，将测试频段的输出功率放大到所需的电平）通过定向耦合器耦合部分功率作为参考信号，输入至网络分析仪，在高频段（如：X波段以上）为了减少路径损耗和路径相位的变化，参考信号通过混频变化为较低的频率（中频）输入至网络分析仪。网络分析仪的接收通道可以自由设定接收机的频率至中频。
利用二端口或四端口时，PNA-X与传统VNA结构相比有四大改进：
* 两个信号源：第二个内部信号源与个信号源的频率和功率电平设置是相互独立的。第二个信号源可用于非线性放大器测试如互调失真（IMD），或用作测试混频器和变频器的快速本地振荡器（LO）。
* 宽带信号合路器：内部信号合路器可以在仪器的相关测试端口耦合器之前将两个源合并在一起。这便简化了需要两个信号源的放大器测试设置。
* 信号切换和接入点：辅助开关和射频接入点能实现灵活的信号路径选择，并增加外部信号调理得硬件（如推动放大器）或外部测试设备（如数字信号发生器或矢量信号分析仪）。
基于VNA的测试系统为测量无线通信和航空/系统中所使用的射频和微波元件提供了动力。与传统VNA相比，Agilent PNA-X微波网络分析仪的先进体系结构具有更大的灵活性，使工程师们可以通过一次连接便能测量各种各样的元件。PNA-X内主要的增加项是第二个信号源和内部宽带信号合路器，从而简化了放大器、混频器和变频器的测量。除S参数、压缩和谐波的传统单信号源测量之外，两个信号源还可用于IMD、相位随驱动的变化、热态S参数和真实激励模式的测试。PNA-X端口上信号源的高功率输出、低谐波和宽功率扫描范围的属性完全适应当前器件的测试要求。
